示波器的觸發功能-模擬觸發器的缺點
示波器模擬觸發器的缺點
通過分析,我們可以總結出模擬觸發器的一些不足之外,包括以下幾個方面:
觸發抖動
有以下幾個因素會影響到觸發器的穩定性。
1. 比較器輸出抖動
比較器的參考門限電平(VREF )通常使用DAC反量化輸出,其過程受DAC精度、比較器響應速度、系統噪聲、環境溫度影響容易產生漂移(?v),這些因素將會導致比較器輸出產生抖動(?t1),如圖 2.6右所示。當然,如果硬件電路控制得好,通常影響會比較小,甚至可以忽略。
圖 2.6 比較器輸出抖動
2. 采樣與觸發通路間延時抖動
在模擬觸發器中,信號的采樣和觸發是兩個不同的物理通路,在設計時,我們認為兩個通道間的延時為零(或是一個固定的值,可以修正);但實際上,“采樣通路”和“觸發通路”兩條不同路徑受系統線性、非線性等因素(器件、PCB板材、噪聲及環境溫度變化等)干擾,會導致信號傳輸有延時差(?dly),產生觸發抖動(?t2),如圖 2.7所示。
圖 2.7 采樣通路與觸發通路延時抖動
3. TDC的測量精度
TDC的測量精度和實現方法與器件參數一致性有關,這是觸發器的核心單元,由模擬器件組成,通常比較難控制,所以TDC的測量誤差也是影響觸發抖動的關鍵因素。
觸發靈敏度
前面我們分析比較器的時候有提到觸發靈敏度,需要通過更改比較器的反饋電阻來調節,在實際的應用中,通常調節好是固定的一個或兩個值,不可能允許用戶動態調整,因此不能很好地適應各種復雜的測試環境。
觸發間隙
在分析模擬TDC的工作原理時,我們發現觸發后系統(電容)需要一個時間恢復到初始狀態,這個時間通常和展擴后的脈沖相當略長。這在數字存儲示波器中是致命的,因為它會影響延長兩次觸發之間(增加死區時間)的間隙,這將嚴重影響波形刷新率,降低示波器的性能。