為什么研發過程中用到紅外熱像儀?
在研發過程中,溫度是影響產品質量的關鍵,利用紅外熱像儀測量電子元器件發熱及電路板的熱分布情況,可以分析電路設計存在的不足,更全面了解產品缺陷,完善設計。
現在跟著小編來了解以下典型應用:
一、電路元器件溫升分析
溫度會影響電路器件的可靠性。隨著溫度增加,電路元器件熱失效率呈指數增長,電路元器件的溫度在70℃~80℃水平上每升高1℃,可靠性則下降5%。
二 、電路板溫度場分布分析
合理的元件排布方式,可有效降低溫升,紅外熱像儀可協助工程師檢測PCB線路板溫度分布狀態,避免缺陷,提高產品可靠性。
三 、查找缺陷 分析問題
短路、虛焊、元器件故障會影響電路正常工作,紅外熱像儀可協助工程師無需線路圖情況下,迅速定位故障點,提高維修效率。
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640*480超高紅外探測器像素,0.04℃的熱靈敏度獲得清晰圖片,區域細微溫差
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PTA分析功能,不僅可實時長期記錄熱過程的變化,提供任意點溫度趨勢分析,進行線性分析